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2025-7-15

納米粒度儀在油漆涂料行業(yè)中主要用于分析涂料體系中顆粒的粒度分布，對(duì)產(chǎn)品性能、質(zhì)量控制及研發(fā)有重要作用，具體應(yīng)用如下：一．提升涂料性能1.改善分散穩(wěn)定性：通過(guò)測(cè)量顏料、填料等顆粒的粒度分布，確保其在涂料中均勻分散，避免沉降、團(tuán)聚，保證涂料儲(chǔ)存和使用時(shí)的穩(wěn)定性。2.優(yōu)化涂層外觀：顆粒尺寸會(huì)影響涂料的光澤度、遮蓋力等。例如，較小的顆粒能提高涂層的平滑度和光澤，而合理的粒度分布可增強(qiáng)遮蓋力，減少顏料用量。3.增強(qiáng)力學(xué)性能：控制納米級(jí)顆粒的尺寸，可提升涂層的硬度、耐磨性、耐腐蝕性等。二...

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納米顆粒粒徑檢測(cè)的相關(guān)知識(shí)介紹納米顆粒粒徑檢測(cè)，必須對(duì)多個(gè)參數(shù)進(jìn)行表征才能很好地了解它們的特性和行為。除了納米顆粒粒徑外，粒徑分布也很相關(guān)。粒徑分布可以揭示諸如溶液中存在聚集體的狀況，這反過(guò)來(lái)可能表明納米顆粒的分散性較差。納米顆粒粒徑檢測(cè)是指在三維空間中至少有一維處于納米尺寸(1-100nm)或由它們作為基本單元構(gòu)成的材料。由于它的尺寸很小，會(huì)產(chǎn)生很多特殊的效應(yīng)，比如小尺寸效應(yīng)、隧道效應(yīng)以及大的比表面積效應(yīng)等，因此使得納米材料表現(xiàn)出不同的物理化學(xué)特性，例如熔點(diǎn)、磁性、光學(xué)、導(dǎo)熱、導(dǎo)電特性等等，因而現(xiàn)在納米... 查看詳情 2022-02-28
動(dòng)態(tài)顆粒圖像分析儀的性能特點(diǎn)介紹動(dòng)態(tài)顆粒圖像分析的性能特點(diǎn)：1.直觀反映顆粒形貌，將顆粒的表面形貌直接反映到計(jì)算機(jī)屏幕，用戶可以直觀且全面了解顆粒的表面及形狀屬性；2.拼接多幅圖像，將選取不同視場(chǎng)拍攝的多幅顆粒圖像拼接成一幅，使參與分析的顆粒數(shù)量更多，測(cè)試結(jié)果更具代表性；3.自動(dòng)分割粘連顆粒，采用更先進(jìn)的顆粒識(shí)別算法，對(duì)各種形狀的粘連顆粒都能自動(dòng)分割，顯著提高粘連顆粒分割準(zhǔn)確率，減少人為參與，有效縮短圖像處理時(shí)間；4.自適應(yīng)二值化功能，動(dòng)態(tài)顆粒圖像分析采用一種自適應(yīng)二值化功能，使其進(jìn)行圖像二值化處理時(shí)不受拍... 查看詳情 2022-02-22
Zeta電位滴定，測(cè)量Zeta電位的方法主要有哪些？ Zeta電位滴定，Zeta電位又叫電動(dòng)電位或電動(dòng)電勢(shì)，是指剪切面的電位，是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)。由于分散粒子表面帶有電荷而吸引周圍的反號(hào)離子，這些反號(hào)離子在兩相界面呈擴(kuò)散狀態(tài)分布而形成擴(kuò)散雙電層。根據(jù)Stern雙電層理論可將雙電層分為兩部分，即Stern層和擴(kuò)散層。當(dāng)分散粒子在外電場(chǎng)的作用下，穩(wěn)定層與擴(kuò)散層發(fā)生相對(duì)移動(dòng)時(shí)的滑動(dòng)面即是剪切面，該處對(duì)遠(yuǎn)離界面的流體中的某點(diǎn)的電位稱為Zeta電位或電動(dòng)電位。即Zeta電位是連續(xù)相與附著在分散粒子上的流體穩(wěn)定層之間的電勢(shì)差。... 查看詳情 2022-01-13
納米二氧化硅粒度分析可以用于檢測(cè)什么？納米二氧化硅粒度分析主要針對(duì)于納米二氧化硅材料。納米二氧化硅是具有工業(yè)應(yīng)用前景的納米材料，它的應(yīng)用領(lǐng)域十分廣泛，幾乎涉及到原所有應(yīng)用二氧化硅粉體的行業(yè)。納米二氧化硅的粒徑小、比表面積大、生物相容性好，且具有納米材料的表面界面效應(yīng)、小尺寸效應(yīng)、量子尺寸效應(yīng)等優(yōu)點(diǎn)。就作為填料而言，不改變工藝流程，而只是替代粗晶二氧化硅，其制品的各項(xiàng)性能指標(biāo)均會(huì)大幅提高，而納米二氧化硅的應(yīng)用也遠(yuǎn)不止于此。納米二氧化硅粒度分析納米二氧化硅為無(wú)定型白色粉末，是一種無(wú)毒、無(wú)味、無(wú)污染的無(wú)機(jī)非金屬材料，其... 查看詳情 2021-12-13
關(guān)于圖像粒度粒形分析儀，我知道的都在這兒了！圖像粒度粒形分析儀是一種激光加圖像二和一的粒度粒形分析系統(tǒng)。它的激光散射系統(tǒng)為雙鏡頭斜入射光學(xué)系統(tǒng)，成像系統(tǒng)為動(dòng)態(tài)雙路遠(yuǎn)心顯微成像系統(tǒng)，可同步進(jìn)行粒度和粒形分析，實(shí)現(xiàn)了一機(jī)兩用。分析儀避免了多光束技術(shù)造成的間斷散射光信號(hào)的連接偏差和多波長(zhǎng)造成的樣品折射率偏差，使測(cè)試結(jié)果更準(zhǔn)確，同時(shí)實(shí)現(xiàn)了對(duì)納米、微米甚至毫米級(jí)樣品的準(zhǔn)確粒度測(cè)試。由于探測(cè)器數(shù)量多和結(jié)構(gòu)*，該儀器具有*分辨單峰、雙峰和多峰樣品的能力。圖像粒度粒形分析儀可以輕松地根據(jù)您的質(zhì)量控制程序進(jìn)行校準(zhǔn)。可以一次分析32種形態(tài)... 查看詳情 2021-11-10
納米顆粒粒徑檢測(cè)原來(lái)有這么多方法！納米顆粒粒徑檢測(cè)，顆粒的大小稱為粒度，通常球體顆粒的粒度用直徑表示，立方體顆粒的粒度用邊長(zhǎng)表示。粒徑是顆粒的直徑。然而實(shí)際中的顆粒大多是不規(guī)則的，所以，為了更方便的描述顆粒的大小，在實(shí)際測(cè)算中，將不規(guī)則的顆粒等效為規(guī)則球，并以其直徑作為顆粒的粒度。這就是“等效圓球理論”。今天，一起來(lái)了解一下納米顆粒粒徑檢測(cè)的篩分法、顯微(圖像)法、沉降法、電阻法。1.篩分法：篩分法測(cè)定粒徑時(shí)，按照被測(cè)試樣的粒徑大小及分布范圍，將大小不同篩孔的篩子疊放在一起進(jìn)行篩分，收集各個(gè)篩子的篩余量，稱量... 查看詳情 2021-10-20

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