納米顆粒粒徑檢測篩分法：篩分法測定粒徑時，按照被測試樣的粒徑大小及分布范圍，將大小不同篩孔的篩子疊放在一起進行篩分，收集各個篩子的篩余量，稱量求得被測試樣以重量計的顆粒粒徑分布。篩分法適于粒度≥30μm的粉體。測定時取一定量的粉料通過篩子，測定篩余量(即通不過的粉料量)占總重量的百分率，篩余越多，說明粉料顆粒愈粗。不同產品有不同的篩余量。其中重要的參數是篩分直徑(顆粒能夠通過的最小方篩孔的寬度)和篩孔的大小，用目表示每一英寸長度上篩孔的個數。
納米顆粒粒徑檢測光阻法：當顆粒通過光束時，部分光被擋住，引起光電檢測器信號變化，該信號脈沖的個數對應于顆粒的個數，而脈沖的面積對應于顆粒的大小。樣品需稀釋到極低濃度，測量結果取決于校準。
納米顆粒粒徑檢測動態光散射法：當顆粒粒度小于光波波長時，由瑞利散射理論，散射光相對強度的角分布與粒子大小無關，不能夠通過對散射光強度的空間分布(即上述的靜態光散射法)來確定顆粒粒度，動態光散射正好彌補了在這一粒度范圍其他光散射測量手段的不足，原理是當光束通過產生布朗運動的顆粒時，會散射出一定頻移的散射光，散射光在空間某點形成干涉，該點光強的時間相關函數的衰減與顆粒粒度大小有一一對應的關系。通過檢測散射光的光強隨時間變化，并進行相關運算可以得出顆粒粒度大小。盡管如此，動態光散射獲得的是顆粒的平均粒徑，難以得出粒徑分布參數。動態光散射法適于測定亞微米級顆粒。
